各種器件的I-V功能測試和特征分析，包括：

離散和無源元件

兩抽頭器件——傳感器、磁盤驅(qū)動器頭、金屬氧化物可變電阻（MOV）、二極管、齊納二極管、電容、熱敏電阻

三抽頭器件——小信號雙極結(jié)型晶體管（BJT）、場效應(yīng)晶體管（FET）等等

簡單IC器件——光學器件、驅(qū)動器、開關(guān)、傳感器

集成器件——小規(guī)模集成（SSI）和大規(guī)模集成（LSI）

模擬IC

射頻集成電路（RFIC）

集成電路（ASIC）

片上系統(tǒng)（SoC）器件

光電器件，例如發(fā)光二極管（LED）、激光二極管、高亮度LED（HBLED）、垂直腔面發(fā)射激光器（VCSEL）、顯示器。

介質(zhì)耐受性

雙極結(jié)型晶體管設(shè)計

結(jié)型場效應(yīng)晶體管設(shè)計

金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管設(shè)計

太陽能電池和 LED 設(shè)計

高電子遷移率晶體管設(shè)計

復(fù)合半導(dǎo)體器件設(shè)計

分析納米材料和實驗器件

碳納米管的電測量標準

測量碳納米管電氣特性

提高納米電子和分子電子器件的低電流測量

在低功率和低壓應(yīng)用中實現(xiàn)準確、可靠的電阻測量

納米級器件和材料的電氣測量

提高超高電阻和電阻率測量的可重復(fù)性